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叶面积指数测定仪的详细介绍以及技术参数

文章来源:恒美植物仪器网   发布时间:2017-09-30 08:55:57

  叶面积指数测定仪用于各种高度植物冠层的研究,利用鱼眼镜头和CCD图 像传感器获取植物冠层图像,通过专用分析软件,获得植物冠层的相关指标和参数。利 用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据,只操作一次即可,简化了传统测量方法 要**定点多次测量的繁复工作,而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠 层结构参数的冠层空隙部分,也可以躲开不符合测量计算的障碍物。
叶面积指数测定仪
  测试原理与方法
叶面积指数测定仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论 半经验的公式,通过 冠层孔隙率的测定,计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下,植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下 天穹半球图像分析 测量冠层孔隙率的方法,该方法是各类方法中较准确和较省力、省时、快捷方便的方法。
 
技术参数
1.镜头角度:150°(或用户自选180°镜头。除用户有特殊需要,180°鱼眼镜头经
常不适合孔隙率测量原理与方法所假设的前提条件,用于冠层结构分析是不适宜
和不经济的)。
2.分辨率:768×494pix
3.测量范围:天顶角由0°~75°(150°鱼眼镜头)可分割成十个区域,方位角360°亦可分割成十个区域。
4.PAR感应范围:感应光谱400~700nm。   测量范围0~2700μmol/m2•s
5.分析软件:专业植物冠层分析系统软件。
6.显示和内存:7英寸笔记本,128内存以上。
7.电  源:电脑电池。
8.探头尺寸:直径6cm,高10cm
9.传输接口:USB
10.工作温度:0~55℃
11.重量:1.5kg

  叶面积指数测定仪以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区,方位角可分10区)。对不同方向的冠层进行区域性分析时,可以任意屏蔽地物景像和不合理 的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择,可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件,通过USB接口直接将测点图像显示在计算机上,可以在野外即时观察图像,选择合理的测点,将图像存贮。


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